外観検査 画像認識 セミナー
        

IoTビジネス・機器開発における 潜在ニーズと取り組み事例集

全固体電池のイオン伝導性向上技術と 材料、製造プロセスの開発
 
<セミナー No.711427>

★ ばらつきのある良品検査、学習速度の高速化など、画像認識の現状と可能性を探る

外観検査へ向けた

画像認識、処理技術の開発


■ 講師
1. 中京大学 工学部・人工知能高等研究所長 教授・所長 工学博士 輿水 大和 氏
2. (株)富士通研究所 ものづくりイノベーション研究所 長門 毅 氏
3. (株)リコー 研究開発本部 リコーICT研究所 AI応用研究センター シニアスペシャリスト 笠原 亮介 氏
■ 開催要領
日 時

平成29年11月16日(木) 10:30〜15:40

会 場 [東京・五反田]技術情報協会 セミナールーム
聴講料 1名につき55,000円(消費税抜き・昼食・資料付き) 
〔1社2名以上同時申込の場合1名につき50,000円(税抜)〕
〔大学、公的機関、医療機関の方には割引制度があります。
詳しくは上部の「アカデミック価格」をご覧下さい〕
■ プログラム

< 10:30〜12:00>

1.外観検査の画像処理とその実際

中京大学 輿水 大和 氏

 


【講演概要】
 本講演では、以下のようなAGENDAにて、「外観検査の画像処理と実際の取り組み」について、
具体的事例を交えて見識を深める。

1.画像デジタル化の基盤強化  
◎シャノン標本化定理、「OKQT理論」と統合理論ST+QT

2.エッジ検出基盤整備
◎CFI導入と「狭隘原理」、そして四大原理に向けて

3.大局視覚の画像処理
◎Hough変換、その高速化と高度化と拡張の展望

4.万能検査の可能性
◎KIZKIアルゴリズムの核心と深層学習DLについて、応用事例

5.視覚感性の画像処理
◎似顔絵PICASSOの事例と顔研究と日本顔学会

6.画像検査の事例紹介
◎開発研究の事例と共同研究へのお誘い、開発チームの秘密

7.画像産業応用強化のインキュベータ
◎学術活動SSII、ViEW・DIA(IAIP)などへのお誘い

 

【質疑応答・名刺交換】


<13:00〜14:00>

2.生産ラインにおける機械学習の応用−画像認識システム−

(株)富士通研究所 長門 毅 氏

 

【講演概要】
 FA分野における画像認識技術は、製品の製造・組立ならびに検査など、様々な場所で用いられている。本講座では、各生産工程における画像認識の課題を紹介し、画像認識システムに対する機械学習技術の適用事例として、画像認識プログラムの自動生成技術について紹介する。

1.生産ラインにおける画像認識技術
 1.1 組み立て工程における画像認識
 1.2 検査工程における画像認識

2.画像認識システムのポイント
 2.1 画像処理プログラムの構成
 2.2 生産現場における画像認識の課題
 2.3 画像認識プログラムの自動生成
  2.3.1 機械学習(遺伝的プログラミング)を用いた自動生成
  2.3.2 専門型遺伝的プログラミング法
  2.3.3 任意形状の位置認識処理への対応
  2.3.4 画像分類処理への対応

3.適用事例・効果の紹介

4.今後の展開



【質疑応答・名刺交換】


<14:10〜15:40>

3.画像認識技術の概要と外観検査への応用

(株)リコー 笠原 亮介 氏

 

【講演概要】
 近年、自動運転を始めとする多彩なアプリケーションに必要な技術として盛り上がっている画像認識技術の概要と、画像認識技術の外観検査への応用に関して解説致します。
 機械学習ベースの外観検査技術に興味がある方におすすめ致します。
 予備知識として画像データに対する知識があると理解が深まります。

1.画像認識技術の概要

2.画像の撮影

3.欠陥検査技術
 3.1 機械学習を用いた外観検査について
 3.2 学習の種類
 3.3 特徴量の設計について
 3.4 性能評価
 3.5 学習サンプル

4.自動外観検査の実例

5.画像認識技術を用いた欠陥検査の今後の動向

 

【質疑応答・名刺交換】


機械学習 特徴量 セミナー