プラスチック アニール セミナー
        
高分子の残留応力対策
 
 

<セミナー No 805202>


★高い圧力で金型に押し込められた状態から冷却されるために残る歪み(残留応力)発生の理解と考え方

★「厚み,形状,素材の分子構造」との相関性,「アニール処理の3要素(張力,温度,滞留時間)」の調整テクニック

★アニール処理で除去できない歪みとは? 
  アニール処理が災いして起こる不具合とは?
  アニール処理で陥りやすい失敗例とは?


プラスチック成形品,フィルムにおける残留応力

歪み発生メカニズムとアニール処理による対策


■ 講 師


【第1部】

 
群馬大学 大学院工学研究科 生産システム工学専攻 専攻長 教授 工学博士  黒田 真一 氏


【第2部】


本間技術士事務所 所長 技術士(化学部門) 本間 精一 氏


【第3部】


(株)ラボ 大村研究所 所長 竹内 光 氏


【第4部】


JFEテクノリサーチ(株) 計測・プロセスソリューション本部 計測・可視化解析センター センター長
藤本 幸二 氏
■ 開催要領
日 時

平成30年5月17日(木) 10:30〜1645

会 場 [東京・五反田] 日幸五反田ビル8F 技術情報協会 セミナールーム
聴講料

1名につき55,000円(消費税抜,昼食・資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき50,000円〕

〔大学,公的機関,医療機関の方には割引制度があります。詳しくは上部の「アカデミック価格」をご覧下さい〕

■ プログラム

【10:30〜12:00】

第1部 アニール処理による高分子の高次構造変化メカニズムとその解析

●講師 群馬大学 大学院工学研究科 生産システム工学専攻 専攻長 教授 工学博士  黒田 真一 氏

 

【セミナープログラム】

1.はじめに
  1-1 高分子の高次構造
  1-2 高分子の熱的性質

2.ガラス転移とエンタルピー緩和
  2-1 ガラス状態
  2-2 ガラス転移
  2-3 体積緩和とエンタルピー緩和
  2-4 ガラス状態のダイナミクス

3.低温結晶化とアニール効果
  3-1 結晶構造と高次構造
  3-2 結晶化機構
  3-3 低温結晶化とその影響

【質疑応答】


【12:45〜14:15】

第2部 押出成形における残留ひずみとアニール処理

●講師 本間技術士事務所 所長 技術士(化学部門) 本間 精一 氏

 

【講座の趣旨】

  押出成形における残留ひずみには,冷却ひずみ,配向ひずみ,熱ひずみなどがある。過大な残留ひずみが存在すると,ストレスクラック,そり,光学ひずみなどを誘発する。 本講では残留ひずみの発生機構およびアニール処理を含めた低減対策について述べる。

【セミナープログラム】

1.残留ひずみに関係する樹脂特性
  (1)応力緩和
  (2)圧力・比容積・温度特性 

2.残留ひずみ,残留応力の発生原理

3.押出成形と残留ひずみ
  (1)押出工程と圧力,樹脂温度変化
  (2)残留ひずみと低減対策 
     1)冷却ひずみ
     2)配向ひずみ
     3)熱ひずみ
  (3)残留ひずみと製品品質
  (4)残留ひずみ測定法

4.アニール処理
  (1)アニール処理による残留応力低減
  (2)アニール処理条件
  (3)アニール処理の方法

【質疑応答】


【14:30〜15:30】

第3部 樹脂・フィルムへのアニール処理のための装置とその運用,応用

●講師 (株)ラボ 大村研究所 所長 竹内 光 氏

 
【セミナープログラム】

1.プラスチックフィルムのアニール処理を行う目的
   加熱収縮率低減による熱?法安定性向上, ラミネーションカールの抑制,
  たるみ,しわ補正,平滑性の向上


2.フィルム製膜プロセスと配向による熱歪の残留

3.特許からみた結晶性フィルムの弛緩熱処理方法
  3.1 インラインアニール処理
  3.2 オフラインアニール処理


4.ラボオフラインアニール処理の装置と運用について
  4.1 装置の種類と構成 (熱風循環炉,IR炉と過熱水蒸気)
  4.2 低熱収縮化処理の検討手順とその事例
  4.3 熱処理,アニール処理の3要素(張力,温度,滞留時間)の調整
  4.4 コーティング前処理と熱歪除去のインライン加工装置


5.アニール処理の事例
  5.1 アニール処理によるPros/Cons
  5.2 アニール処理後の熱寸法安定性
      PETフィルムとPENフィルム
  5.3 アニール処理後の平面性評価
  5.4 アニール処理フィルムによるラミネーションカール抑制効果
  5.5 ITO後結晶化処理
  5.6 溶剤キャスティング法で製膜されたフィルムの残留溶剤除去


【質疑応答】

【15:45〜16:45】

第4部 アニール処理による樹脂・フィルムの面歪みおよび透視歪みの計測・解析技術 について

●講師 JFEテクノリサーチ(株) 計測・プロセスソリューション本部 計測・可視化解析センター センター長
     藤本 幸二 氏

 
【セミナープログラム】

1.面歪み測定原理および内容・結果


2.透視歪み測定原理および内容・結果

3.樹脂・フィルムへの適用例、アニール処理の評価例

4.その他開発事例およびまとめ

【質疑応答】
 

アニール エージング セミナー