FT-IR 微小異物分析 セミナー
        
高分子の残留応力対策
動的粘弾性チャートの解釈事例集
 

<セミナー No 808218>


★発生した異物をどのように調査するか?

FT-IRを用いた微小異物分析

■ 講師

サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) マテリアルズ&ストラクチャーアナリシス事業本部
分光分析アプリケーション部 マネージャ 小松 守 氏

■ 開催要領
日 時

平成30年8月23日(木) 10:30〜17:00

会 場 [東京・五反田] 技術情報協会 セミナールーム
聴講料

1名につき 50,000円(消費税抜、昼食・資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき45
,000円〕

〔大学、公的機関、医療機関の方には割引制度があります。詳しくは上部の「アカデミック価格」をご覧下さい〕

※定員になり次第、お申込みは締切となります。

■ プログラム

1.FT-IRの基礎
 1-1.分子振動と光吸収
 1-2.分子振動モード

2.FT-IRスペクトルの解釈
 2-1.帰属表の使い方のコツ
 2-2.ライブラリ検索のコツ

3.測定手法とサンプルの前処理方法
 3-1.透過法
 3-2.反射法
 3-3.ATR法(一回反射ATR法)

4.良質なスペクトルを得るために
 4-1.様々なノイズの処理方法
 4-2.パラメータ設定の定石

5.顕微FT-IR
 5-1.微小異物分析
 5-1-1.前処理ツール 
 5-1-2.サンプリングテクニック
 5-2.イメージング分析

【質疑応答】

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