第1節 パワーデバイス用高温接合材料の開発
1.パワーデバイスの構造と各接合部に求められるはんだ
1.1 高鉛はんだからの切替とWBG半導体に向けて
1.1.1 SnSb系はんだとステップソルダリング
1.1.2 WBG半導体向けSnSbAgCu系はんだ
1.2 はんだの供給形態、シートとペースト
1.2.1 ボイド抑制ペースト
1.2.2 洗浄性向上ペースト
1.2.3 低残渣ペースト
1.2.4 ギ酸リフロー対応ペースト
1.2.5 Niボール入りはんだ ペースト材/シート材
1.2.6 真空リフロー炉
2.Ag焼結材料
2.1 Ag焼結ペースト
2.1.1 マイクロAg焼結ペースト
第2節 はんだ付け部の信頼性と対策
1.はんだ付け部の信頼性
2.はんだクラック
2.1 はんだクラック進展
2.2 結晶方位解析によるクラック進展
2.3 クラック進展のばらつき
2.3.1 Sn結晶方位の影響
2.3.2 評価方法の問題
3.エレクトロマイグレーション
3.1 EMについて
4.エレクトロケミカルマイグレーション(イオンマイグレーション)
4.1 フラックス残渣とECM
4.2 高温下で発生するECM
5.他項目
6.信頼性試験の短縮化
第3節 半導体実装用高機能Cuボンディングワイヤの開発
1.ボンディングワイヤの環境ストレス試験
2.新型高信頼性PCCワイヤ
2.1 高温高湿耐性
2.2 高温耐性
2.3 実用化に向けた取り組み
2.4 脱Auワイヤ化に向けた材料開発
第4節 高耐熱ナノソルダー接合材料の開発
1.ナノソルダー接合材料
1.1 接合メカニズム
1.2 接合検証
2.高品質ナノ粒子
2.1 ナノ粒子作製技術
2.2 ナノ粒子品質
3.ナノソルダー量産技術
3.1 ナノソルダー製造プロセス
3.2 ナノソルダー製造装置
第5節 酸化銅ナノ粒子を用いた銀焼結接合体の高機能化
1.酸化銅ナノ粒子を含むナノ銀焼成膜の機械信頼性
2.酸化銅ナノ粒子を含有した積層銀焼結接合体
第6節 半導体デバイス製造に用いられる低温接合技術
1.半導体デバイス製造に用いられる接合技術
2.常温・低温接合技術の放熱応用
2.1 半導体の直接接合による高放熱構造の実現
2.2 Au薄膜を介した接合による高放熱構造の実現
第7節 Ag焼結接合による異種材接合による高放熱パワーモジュール構造と信頼性評価
1.Ag焼結接合技術
1.1 ミクロンAgフレーク粒子焼結接合
1.2 Agフレークペースト低温焼結メカニズム
1.3 異種材界面接合
2.構造信頼性評価
2.1 高温構造信頼性
2.2 熱衝撃信頼性試験
2.3 高信頼のAg-Si実装材料
第8節 Cuナノ粒子を用いた高耐熱接合技術と特性評価
1.Cuナノ粒子を用いた高耐熱接合技術
1.1 接合材料と試料
1.2 熱特性
1.3 信頼性
2.高耐熱接合の特性評価
2.1 基礎物性値
2.1.1 ヤング率
2.1.2 熱膨張係数
2.2 信頼性
2.2.1 パワーサイクル信頼性
2.2.2 エレクトロマイグレーション信頼性
第9節 高耐熱パワーデバイス用Niマイクロメッキ技術
1.高耐熱接続材料と技術
2.Niマイクロメッキ接合(NMPB:Nickel Micro Plating Bonding)
2.1 銅ワイヤを介した電極とのNiマイクロメッキ接合
2.2 専用リードフレームを用いたNiマイクロメッキ接合
3.リードフレームを用いたSiCモジュールの試作と評価
3.1 リードフレームタイプ1レグモジュールの試作
3.2 リードフレームタイプ1レグモジュールの評価
3.2.1 パワーモジュールのI-V特性と高温動作
3.2.2 各種パワーモジュールパッケージのパワーサイクル試験
第10節 焼結接合デバイスで求められる洗浄技術
1.焼結接合デバイスにおけるコンタミネーションの形成と残留の影響
1.1 焼結剤成分由来のコンタミネーション【有機物残渣】
1.1.1 有機物残渣が及ぼす影響
1.2 接合プロセス起因で生じるコンタミネーション【銅酸化物・シート成分】
1.2.1 AMB/DCB ( Active Metal Brazing/Direct
Copper Bonding)基板の表面酸化【銅酸化物】
1.2.2 樹脂シートからの混入【シート成分】
1.2.3 シート成分や銅酸化物が及ぼす影響
1.3 目視判別困難なコンタミネーション【イオン残渣】
1.3.1 イオン残渣が及ぼす影響
1.4 はんだ接合プロセスでの洗浄(フラックス洗浄)との相違点
2.洗浄剤と洗浄方式の選定
2.1 洗浄剤に求められる基本特性
2.2 高極性溶媒の適用
2.3 洗浄剤に求められる環境適正
2.4 洗浄方式による差異
2.5 超音波洗浄における課題 「液置換性」・「部材ダメージ」・「ガルバニック腐食」
2.6 スプレー洗浄機の形態
3.洗浄後の清浄度分析
3.1 清浄度分析の手法
3.2 FT-IR(フーリエ変換赤外分光光度計)
3.3 基板表面の観察
3.4 SEM-EDS (走査型電子顕微鏡エネルギー分散型X線分光法)
3.5 IC(イオンクロマトグラフィ)
3.5.1 ROSE(Resistivity of Solvent Extract)
Testとの相違
3.5.2 イオン残渣の基準値
4.洗浄事例
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