第1節 加速試験データ(Sparse
data)による寿命推定
はじめに
1.評価の基本的な考え方
2.生体試料中薬物濃度分析
2.1 分析手法
2.2 標準品
2.3 内部標準品
2.4 前処理法
2.5 LC/MS法による検出イオン
2.6 試料中安定性
2.7 吸着
2.8 許容(判定)基準
3.体内動態(吸収、分布、代謝、排泄)
4.薬物相互作用
おわりに
第2節 スモールデータに基づく機器の寿命予測
はじめに
1.スモールデータによる寿命予測の課題
1.1 スモールデータ解析の定義
1.2 信頼性試験における寿命予測の課題
2.信頼性試験データの解析
2.1 ワイブル解析の概要
2.2 パラメトリック推定とノンパラメトリック推定
2.3 スモールデータにおける課題
3.故障数0のときの累積故障確率の区間推定法
3.1 信頼性試験の目的
3.2 累積故障確率の区間推定
3.3 χ2分布による方法
3.4 二項分布による方法
3.5 F分布による方法
3.6 不完全ベータ関数比による方法
3.7 指数分布とポアソン分布の関係に基づく方法
3.8 形状パラメータが既知のワイブル分布に基づく方法
3.9 片側区間推定上限の比較
4.まとめ
第3節 パワー半導体の寿命予測シミュレーション
はじめに
1.寿命予測シミュレーションの概要
2.寿命予測シミュレーションによる評価事例
3.寿命予測シミュレーションにおける材料特性値
4.寿命予測シミュレーションにおける寿命予測式
5.寿命予測シミュレーションの材料設計への適用事例
5.1 Ag焼結接合材料の特性パラメータ設計への適用事例
5.2 封止樹脂材料の特性パラメータ設計への適用事例
6.まとめ
第4節 積層セラミックコンデンサの寿命予測
はじめに
1.MLCCの経時絶縁劣化メカニズム
1.1 MLCCの構造と材料,酸化物イオン欠陥の起源
1.2 MLCCの経時絶縁劣化メカニズム
1.3 MLCC信頼性向上のための指針
2.寿命評価試験
2.1 高加速寿命試験(Highly Accelerated Lifetime Test;
HALT)
2.2 典型的なMLCCのHALT結果
3.寿命予測式の妥当性
3.1 経験式と物理式
3.2 物理式の検証と修正
3.3 寿命予測と信頼性保証
第5節 顕微ラマン分光と数値解析を併用した高精度な製品寿命予測
はじめに
1.半導体デバイスの製品寿命予測と課題
1.1 GaN-HEMTの動作原理と製品寿命予測
1.2 従来の温度計測法の課題
2.ラマン分光と数値解析を併用した温度計測法
2.1 ラマン分光法
2.1.1 ラマン分光の概要
2.1.2 ラマン分光によるチャネル層の温度計測方法
2.2 数値解析によるチャネル層の温度分布推定
2.2.1 温度分布解析の概要
2.2.2 モデル構築の実際
2.3 ラマン分光と数値解析の併用による高精度な温度分布計測
3.GaN-HEMTの製品寿命の高精度予測
おわりに
第6節 鉄道信号用電子機器の寿命評価手法の開発
はじめに
1.鉄道信号用電子機器における耐用寿命の定義
1.1 故障の定義
1.2 故障分布と耐用寿命の定義
2.鉄道信号用電子機器の使用環境
2.1 想定ストレス要因
2.2 ストレス要因の定量化
3.鉄道信号用電子機器の寿命評価手法
3.1 寿命評価アプローチとフロー
3.2 部品評価手法
3.2.1 主機能に影響する部品抽出
3.2.2 信頼性試験データの取得
3.2.3 使用環境条件での寿命予測
3.3 基板評価手法
4.ケーススタディ
4.1 部品評価
4.1.1 主機能に影響する電子部品の抽出
4.1.2 信頼性試験データの取得
4.1.3 使用環境条件での寿命予測
4.2 基板評価
4.2.1 加速試験条件の設定と実施
4.2.2 加速試験結果
4.2.3 実使用環境への寿命換算
4.3 総合評価
4.4 パラメータスタディ
5.耐用寿命決定の考え方
おわりに
第7節 固体高分子形燃料電池用触媒の電気化学的手法による耐久性評価
はじめに
1.PEFCの構成材料、発電原理、劣化
2.PEFC触媒の電気化学的手法による耐久性評価
3.測定例
3.1 起動停止試験
3.2 負荷応答試験
おわりに
第8節 ワイブル則による新規寿命予測式
はじめに
1.背景
1.1 ルート則
1.2 べき乗則
2.ワイブル則による予測
2.1 アプローチ
2.2 導出
2.3 ワイブル則での寿命予測
2.4 ワイブル則と、ルート則およびべき乗則の関係
2.5 単一外部要因による劣化
2.6 複数の外部要因による劣化
2.7 サイクルによる劣化
2.8 サイクル劣化のこれまでの予測式との関係
おわりに
第9節 機械製品の疲労寿命予測のためのX線3次元残留応力推定法
はじめに
1.X線3次元残留応力推定法の特徴
2.X線3次元残留応力推定法の基礎理論
2.1 固有ひずみの定義
2.2 非弾性ひずみが均一に生じる場合
2.3 非弾性ひずみが不均一に生じる場合
2.4 非弾性ひずみと弾性ひずみとの関係
2.5 逆問題解析による固有ひずみの推定
2.6 X線3次元残留応力推定法における逆解析
3.X線3次元残留応力推定法の推定精度の向上
3.1 固有ひずみの未知数の適切な削減
3.2 有効な計測情報量と計測精度の向上
3.3 逆解析における解の適切化手法の適用
4.X線3次元残留応力推定法の応用
4.1 溶接,表面改質材等,様々な施工材料への適用
4.2 放射光や中性子を用いた部材全域の3次元残留応力推定
4.3 幾何学形状の変化による有効な計測情報の追加
4.4 固有ひずみ理論に基づくき裂の検出手法
第10節 樹脂製品の促進耐候性試験における加速倍率の算出
はじめに
1.促進耐候性試験と暴露試験
1.1 促進耐候性試験
1.2 促進耐候性試験による寿命予測
1.3 促進耐候性試験における加速倍率
1.4 暴露試験
2.加速倍率の算出方法
2.1 劣化度合の測定
2.2 加速倍率の決定
3.加速倍率の算出例
3.1 実施方法
3.2 実施結果
4.加速倍率の取扱いにおける留意点
4.1 取扱における留意点
4.2 実際の運用について
第11節 シミュレーションによるゴム材料の疲労寿命予測
はじめに
1.疲労寿命予測ソフトウェア
2.ゴム材料の疲労寿命予測
2.1 エネルギー解放率
2.2 疲労寿命回数
2.3 き裂進展速度
2.3.1 エネルギー比ゼロでのき裂進展速度
2.3.2 ひずみエネルギー比ゼロでのき裂進展速度式
3.解析事例
3.1 有限要素モデル
3.2 疲労解析条件と解析結果
4.まとめ
第12節 時間−温度換算則による高分子材料の寿命予測
はじめに
1.時間−温度換算則
1.1 高分子材料の力学挙動における時間−温度換算則
1.2 W.L.F.型時間−温度換算側
1.3 アレニウス型時間−温度換算側
1.4 修正時間−温度換算側
1.5 時間−温度換算則(クリープ以外の場合)
1.6 時間−温度換算則(ISO規格について)
第13節 支持体付きシートを用いた更生工法の耐久性評価
はじめに
1.まえがき
2.支持体付きHDPEシートを用いた更生工法
2.1 複合マンホール更生工法概要
2.2 支持体付きシート概要
3.使用材料の長期耐久性評価
3.1 耐薬品性
3.1 耐硫酸性
3.3 耐劣化性
4.まとめ
第14節 抗体医薬品の凝集機構を活用した安定性予測
1.抗体医薬品(バイオ医薬品)における加速試験
1.1 抗体医薬品
1.2 抗体医薬品における安定性試験
2.加速試験で生じる抗体医薬品の劣化
2.1 抗体医薬品の化学修飾
2.2. 抗体医薬品の凝集
3.抗体医薬品の凝集機構
4.抗体医薬品の物理化学的パラメータ
4.1 構造安定性
4.2 コロイド安定性
5.抗体医薬品の物理化学的パラメータを用いた凝集傾向予測
6.抗体医薬品の加速試験による化学修飾の予測
7.さいごに
第15節 加速遠心・透過光プロファイルを用いた乳化製剤の分散安定性予測
はじめに
1.エマルション製剤の分離メカニズム
1.1 クリーミング
1.2 凝集
1.3 合一
2.加速遠心・透過光プロファイル測定装置を用いた分散安定性評価
2.1 LUMiSizer?の原理
2.2 サスペンション及びエマルションの透過光プロファイル
3.粘度と粒子の沈降・浮上特性の関係
4.加速遠心・透過光プロファイル測定装置を用いた応用例(W/O型エマルションの分散安定性予測)
4.1 ブリーディング量の予測
4.2 乳化粒子の合一に伴う相分離の予測
さいごに
第16節 合成樹脂製食品用器具・容器包装の溶出試験における加速試験条件の適用
はじめに
1.日欧米における加速試験条件の適用
1.1 日本
1.2 米国
1.3 EU
2.実試験データによる妥当性の検証
2.1 加速試験条件の検証
2.2 アレニウスモデルを活用したシミュレーション予測値の検証
おわりに
第17節 紙の加速劣化試験と寿命予測
はじめに
1.紙の加速劣化試験
1.1 乾燥加熱処理
1.1.1 乾燥加熱処理の方法
1.2 加湿加熱処理
1.2.1 加湿加熱処理の方法
2.紙の寿命予測
2.1 紙の劣化の要因
2.2 反応速度論を用いた紙の劣化プロセスの解釈と寿命予測
2.2.1 Zou-Uesaka-Gurnagul式
2.2.2 Strlicらによるドウズ・レスポンス式
2.2.3 モデル化に関わるその他の情報
2.2.4 その他の劣化速度式
おわりに
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